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您现在的位置:展台首页 > 供求商机 > DelsaNano S库尔特纳米粒度分析仪 |
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| 供应数量: |
面议 |
| 发布日期: |
2008年8月7日 |
| 有效日期: |
2009年8月8日 |
| 原
产 地: |
美国 |
| 已获点击: |
228 |
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最新的纳米粒度仪 美国贝克曼库尔特公司颗粒特性分析仪器部门,不断创新,于2007年10月在中国隆重推出又一高性能的纳米粒度仪---DelsaNano。该仪器应用PCS光子相关光谱法以及最新FST专利技术,是一款新型的具有极高的动态测量范围的多用途的测量仪。不但拥有独家的固体表面Zeta电位分析功能,同时拥有独一无二的可进行高浓度样品的Zeta电位测量功能。为目前功能最强大的Zeta电位纳米粒度分析仪。 Delsa Nano最小可测量粒径低至0.6nm。采用了高灵敏度测量技术的 Delsa Nano可同时满足高浓度样品与极低浓度样品的Zeta电位以及纳米粒度的测量要求。浓度动态范围达4个数量级(0.001 % ~ 40 %)。特殊样品不再需要预先稀释即可直接测量。仪器同时备有丰富的可选件,如高浓度样品池、标准样品池、一次性样品池、微量样品池以及PH滴定装置等。Delsa Nano为纳米技术研究的提供最新型的分析工具。 |
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